隨著微納材料和半導體工藝的發展，AFM已廣泛應用於各個領域。AFM除了能表徵材料的形貌、厚度和粗糙度外，其很重要的特點是它可以超越形貌，表徵材料的物理特性。
當採用AFM導電探針，可以實現在導電AFM（CAFM）、壓電AFM（PFM）、靜電力顯微術（EFM）、開爾文力顯微鏡（KPFM）和掃描電容顯微鏡（SCM）等模式中表徵材料的電學性質。AFM導電探針可以是針尖為全金屬材料，也可以是針尖表面鍍上導電塗層，從而測試樣品的導電性、電勢分佈，壓電/鐵電特性等電學性質。
AFM探針是AFM測試準確的關鍵。AFM電學測試具有多種模式，每種模式所適合的探針也有所不同。選擇合適的AFM電學探針，既可以延長探針的使用壽命，也可以獲取更準確的電學測試結果。為更好地服務廣大客戶及使用者，Oi Service直播講堂特別邀請牛津儀器客戶服務部門消耗品應用工程師 李平，於2024年6月12日下午15：00 就如何選擇合適的AFM電學探針與觀眾交流，歡迎各位掃描下方二維碼或點選閱讀原文，免費報名並預約！
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